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PRODUCT

EM-30

Benchtop SEM

제품소개

EM-30은 가장 기본적인 SEM 시스템으로써 SE 검출기를 기본으로 내장하여 제공합니다. BSE 검출기 및 EDS는 옵션으로 추가 가능합니다.100K의 배율과 15nm의 분해능을 제공하는 스탠다드 한 Benchtop SEM으로 기본에 충실하며 가성비 또한 높은 제품입니다. 

어플리케이션

     

제품사양

 

 EM-30

 EM-30AX

 Magnification

 15-150,000X 

 Spatial Resolution

 <5nm at 30kV

 Acceleration Voltage

 1 - 30kV (adjustable in 1kV scale)

 Electron Source

 Pre-Centered Tungsten Filament

 Detector

 SED(DP)

 SED(DP), EDS

 Sample Size

 70mm (W) x 45mm (H)

 X-Y/T Traverse

 35x35mm / 0 - 45º

 Features

 Measurement Tool

 Remote Control

 Automation

 Focus, Filament, Brightness/Contrast

 Data Output Format

 jpg, tiff, BMP

 Dimensions

 400 x 600 x 550 mm

 Weight

 85 kgs

 95 kgs

 Options

BSED

CoolStage

30mm Active Size Compact Type EDS (Particle Analysis)

30mm Active Size Compact Type EDS (MPO included)

 

Optional Products

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